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>>高低溫試驗箱高溫應力試驗的失效模式探討 |
高低溫試驗箱高溫應力試驗的失效模式探討 |
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時間:2013/9/9 |
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環(huán)境應力試驗就是把各種復雜多樣的環(huán)境應力和電應力共同施加在產(chǎn)品樣品上,分析產(chǎn)品可靠性。而由于氣候影響和產(chǎn)品,尤其是電子產(chǎn)品在使用中自身發(fā)熱等原因,溫度這一因素對產(chǎn)品的影響不可忽視,因而在對產(chǎn)品進行環(huán)境應力試驗中,高溫應力、溫度循環(huán)應力、溫度沖擊應力這三種環(huán)境應力試驗是檢驗產(chǎn)品質(zhì)量一道非常重要的工序。下面由北京雅士林技術部通過高低溫試驗箱高溫應力試驗對產(chǎn)品失效的原因進行分析和探討: 1、高溫應力基本參數(shù): 高溫應力的基本參數(shù)主要有2個:①上限溫度;②時間。此外,還有一個要考慮的參數(shù):環(huán)境溫度。因為真正影響恒定高溫效果的變量是上限溫度與室內(nèi)溫度之差,即溫度改變幅度。 2、高溫應力特性分析: 高溫試驗會使產(chǎn)品產(chǎn)生高溫老化,熱積聚、遷移以及蔓延的效應,是一種靜態(tài)工藝或工序,這種方法是通過提供額外的熱作用,讓產(chǎn)品在規(guī)定的高溫下連續(xù)不斷地工作,使熱蔓延,將產(chǎn)品潛在缺陷加速變成故障,并以故障的形式暴露出來。 3、高溫應力誘發(fā)失效的機理及敏感元件。相關信息請繼續(xù)關注北京雅士林官網(wǎng):http://fsylt.com.cn。
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